Ключевые слова: chalcogenide, thin films, coated conductors, fabrication, substrate metallic, PLD process, review, IBAD process, buffer layers, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, anisotropy, X-ray diffraction, resistivity, temperature dependence, magnetic field dependence, upper critical fields, irreversibility fields, pinning force, microstructure, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.